| Главная | Каталог |
» Каталог
» Книги » Научная и научно-популярная литература » Прикладные науки. Техника » Автоматика. Радиоэлектроника. Связь » Электроника. Радиоэлектроника
Каталог товаров:
Настольная книга инженера. Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей. Руководство. Дансмор Джоэль П.
1398 руб
За последние четверть века в радиоэлектронной промышленности произошли революционные изменения, и немаловажную роль в этих переменах сыграла техника сверхвысоких частот. Развитие стандартов беспроводной связи требует задействовать все более высокие частоты, для сетей 5G, например, это уже десятки ГГц. Успех разработки устройств СВЧ-диапазона непосредственно связан с качеством и широтой возможностей по анализу их параметров. Автор книги - инженер-разработчик с 30-летним стажем - работал над широчайшим кругом измерительных задач в СВЧ-диапазоне - от компонентов сотового телефона до спутниковых мультиплексоров. Написанная им книга - это совокупность основ и передового опыта, теории и практики, в центре внимания которой - измерения активных и пассивных устройств с использованием новейших методик векторного анализа цепей, в том числе конфигурации современных векторных анализаторов цепей, методики их калибровки, подходы к анализу полученных результатов измерений, неопределенностей и составляющих систематической погрешности. Значительная часть книги посвящена описанию наглядных практических примеров измерений параметров таких устройств, как кабели и соединители, линии передачи, фильтры, направленные ответвители, усилители и смесители, балансные устройства и пр. Книга станет прекрасным практическим руководством для инженеров-метрологов и разработчиков ВЧ-/СВЧ-устройств, занимающихся моделированием и тестированием как отдельных узлов радиоэлектронной аппаратуры, так и законченных изделий, к примеру, систем спутниковой связи, радиолокации и радионавигации. Крайне полезной данная книга будет и в процессе обучения студентов радиотехнических специальностей. Из серии: Мир радиоэлектроники
2018
